Hyde Startup (Pekin) Biotechnology Co., Ltd.
Home>Produkty>Wysoka rozdzielczość kalibracji próbek 70 nm (dla AFM, SEM, Auger i FIB)
Wysoka rozdzielczość kalibracji próbek 70 nm (dla AFM, SEM, Auger i FIB)
Wysoka rozdzielczość 70 nm (dla AFM, SEM, Auger i FIB)
Szczegóły produktu

Paskowe70 nmOdległość, układ jednowymiarowy, dokładność do ±0,25 nmCertyfikaty podzielone i bez certyfikatów. Przestań z certyfikatem wymaga odniesienia do rzeczywistych liczb na certyfikacie. Precyzyjne paski holograficzne nadają się do mikroskopu o ultrawysokiej rozdzielczości (25 kx-1000 kxPrecyzyjna kalibracja kierunku poziomego, jak również precyzyjna kalibracja instrumentów na skalę nanometrów itp. Wysoka stabilność i wysoka przydatność.

Rozmiar krzemu:4×3×0,5 mmProdukcja dwutlenku krzemu (szerokość kręgosłupa)35 nmWysoki.35 nmTen parametr nie jest kalibrowany).

Dostępne są dwa modele produktów:Model 70-1DorazModel 70-1DUTCWśród nich.Model 70-1DKalibracja próbek,Z certyfikatem producenta,Nieidentyfikowalne źródło;Model 70-1DUTCKalibracja próbek,Certyfikacja,Śledzalne źródło,Zaświadczenie (PTB, niemiecki odpowiednik NISTw).

Informacje zamówienia:

Numer towaru

Nazwa produktu

specyfikacja

80127-1D

Model 70-1D, Standard kalibracji, Niezamontowany

jeden

80127-1D-X

Podobnie, można dostarczyć stoł próbek z gwoździami; albo wyłącznieAFMz (15 mmStal nierdzewnadysk); Lub określić próbkę

jeden

80127-1DC

Model 70-1DUTCz certyfikatem,Rozmontowane

jeden

80127-1DC-X

Podobnie, można dostarczyć stoł próbek z gwoździami; albo wyłącznieAFMz (15 mmStal nierdzewnadysk); Lub określić próbkę

jeden

Zapytanie online
  • Kontakty
  • Firma
  • Telefon
  • E-mail
  • WeChat
  • Kod weryfikacji
  • Zawartość wiadomości

Udana operacja!

Udana operacja!

Udana operacja!